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論文

Substitution effect on orientation of organosilicon compounds (CH $_{3}$ ) $_{3}$ SiX (X = F, Cl, Br, I, NCO) as studied using NEXAFS spectroscopy

関口哲弘; 馬場祐治; 下山巖; Nath, K. G.*; Uddin, M. N.*

Journal of Physics; Condensed Matter, 17(36), p.5453 - 5466, 2005/09

https://doi.org/10.1088/0953-8984/17/36/002

被引用回数：1 パーセンタイル：6.21(Physics, Condensed Matter)

ハロゲン置換,NCO-基置換した有機シリコン化合物について、その凝集試料のSi K吸収端近傍におけるX線吸収スペクトル(NEXAFS)測定とその偏光依存性測定を行い、その電子状態及び分子配向性、特に配向性が発生する機構を明らかにした。凝集表面において分子間の双極子-双極子相互作用により反平行配置を取りやすく、それが系全体の平均配向として現れること、正四面体型分子に近い構造の場合ほど最密充填構造をとり水平配向度が高くなる傾向があるなどのことが明らかとなった。また、スペクトルの蒸着速度依存性測定から動力学的要因によっても分子軸配向が影響を受けることを明らかにした。

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Substitution effect on orientation of organosilicon compounds (CH)SiX (X = F, Cl, Br, I, NCO) as studied using NEXAFS spectroscopy

Substitution effect on orientation of organosilicon compounds (CH $_{3}$ ) $_{3}$ SiX (X = F, Cl, Br, I, NCO) as studied using NEXAFS spectroscopy